元素分析
表面分析
太陽能/半導體
通用儀器耗材
德國布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復性和分辨率,測量.....
新型Dektak XTL探針式輪廓儀系統可容納多大350mm*350mm的樣品,將Dekt.....
薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離,而實際上,薄膜的表面是不平整,不連續的,且薄膜內部.....
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